Oleg Ickes

Entwurf eines Gatetreibers für die Vermessung von Wide Bandgap MOSFETs

Schaltverluste von MOSFETs werden üblicherweise mit einem Doppelpulstest bestimmt. Hierbei müssen die MOSFETs durch einen geeigneten Gatetreiber angesteuert werden. Dieser sollte idealerweise hohe Gateströme bereitstellen, schnelle Anstiegszeiten ausweisen und bei unterschiedlichen Versorgungspannungen funktionieren. Letzteres ermöglicht den Einsatz von unterschiedlichen MOSFETs und die Untersuchung des Einflusses verschiedener Gatespannungen.

In dieser Arbeit soll ein Gatetreiber aufgebaut werden, der für den universellen Einsatz im Doppelpulstest verwendet werden kann. Hierfür soll der Fokus auf die Ansteuerung von modernen Wide Bandgap MOSFETs gelegt werden. Der Gatetreiber soll mit dem am Lehrstuhl für Sensorik und messtechnische Systeme vorhandenen Doppelpulstestplatz bzgl. Versorgungsspannung und Ansteuerung kompatibel sein.

Es sind u.a. folgende Punkte zu bearbeiten:
  -   Entwurf, Simulation und Auswahl von geeigneten Treiberstufen
  -   Auslegung und Aufbau der ausgewählten Treibervariante und der zugehörigen Beschaltung
  -   Inbetriebnahme und Test der Schaltung
  -   Schriftliche Dokumentation der Ergebnisse und Präsentation in einem Seminarvortrag